Équipements de métrologie et caractérisation
- Diffractomètre-X Haute résolution
- Ellipsomètre Alpha-SE
- Ellipsomètre Horiba
- Filmetrics
- FTIR
- HIPLM
- Microscope à épifluorescence
- Microscope holographique
- Microscope laser confocal 3D
- Microscope optique de type métallurgique (Nikon)
- Microscope optique DMLM
- Microscope optique Zeiss Infinity
- Montage laser femto - Mai Tai et OPO
- Montage de spectroscopie iHR320
- Photoluminescence de surface (PL-Mapper)
- Profilomètre optique Fogale
- Résonnance de plasmons de surface - SPR
- Spectroscope Raman
- Station 1 soleil - Elecctrolum
- Station de caractérisation de LED
- Station d'injection dans des guides d'ondes
- Station EQE
- Station flash tester
- Station de phototransducteur
- Appareil de mesure de conductivité sans contact (Semilab)
- Appareil de mesure d'impédance - Solartron
- Chambre environnementale
- MDP - Caractérisation électrique des matériaux sans contact
- Station 1 soleil - Elecctrolum
- Station d'effet Hall
- Station de mesures électriques en salle blanche
- Station EQE
- Station flash tester
- Station sous pointe DC
- Système d'impédance électrochimique (EIS)
- AFM Veeco
- AFM Park System NX20
- Diffractomètre-X Haute résolution
- FTIR
- Microscope ThermoFisher-Apreo
- Microscope ThermoFisher-Axia
- Microscope ThermoFisher-Phenom XL
- Microscope Zeiss Orion NanoFab
- Montage de mesures d'angle de contact
- Profilomètre Dektak
- Profilomètre optique Fogale
- Résonnance de plasmons de surface - SPR
- Station de microcalorimétrie