Diffractomètre-X Haute résolution Rigaku Smartlab
Description
Appareil à rayon-X multi-usage (Diffraction, Dispersion, Réflexion)
Marque et modèle
Rigaku - Smartlab
Spécifications techniques
- Source-X Cuivre 2.2kW, point focal 0.4mm x 12mm
- Détecteur 2D grande surface HyPix 3000
- Échantillons jusqu'à 200mm de diamètre : plateau horizontal, permettant plusieurs formats d'échantillons.
Axes
- Goniomètre haute résolution (Theta, 2-Theta, step 0.0001°)
- Berceau Eulerien (Z, chi, phi)
- Axe dans-le-plan (2-theta-chi + phi)
- Correctifs de planéité ±5° (Rx, Ry)
- Mouvement latéral ±50mm (X, Y)
Conditionnement de faisceau incident
- Monochromateur 2x Ge(220) (32 arcsec)
- Monochromateur 4x Ge(220) (12 arcsec)
- Faisceau divergent (Bragg-Brentano)
- Faisceau parallèle (miroir rayons-X)
- Fentes de soller
- Fentes simples
- Collimateurs
Conditionnement de faisceau diffracté
- Analyseur 2x Ge(220) pour mesures triple-axe
- Filtre K-beta
- Fentes
- Atténuateurs
- Procédés disponibles
Procédés disponibles
- XRD Poudre
- XRD polycristaux
- XRD monocristaux
- XRR réflectivité X
- HRXRD monocristaux (triple axe)
- RSM cartographie d'espace réciproque
- GIXRD
- 2D-GISAXS / WAXS
- In-Plane Diffraction
- Texture / Pole Figure
- Cartographie X-Y complète (<= 100mm diam.) ou partielle (jusqu'à 150mm diam.)
- Analyse de données :
- XRD poudres
- XRD solides
- XRR
- HRXRD / RSM
- SAXS
- Texture
- Crystallography Open Database (COD)
- Visualisation de données multi-dimensionnelles