Microscope à force atomique (AFM) Veeco Dimension 3000
Description
Microscope à force atomique qui permet l'analyse de la topographie de surface
Marque et modèle
Veeco Dimension 3000
Spécifications techniques
- Platine de 6 pouces (150 mm)
- Platine XY avec positionnement manuel
- Contrôleur Nanoscope IIIa
- Logiciel : Nanoscope
Procédés disponibles
- Contact mode
- Tapping mode
- Image topographique et de phase
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