Département de physique

Laboratoire de spectroscopie optique femtoseconde

Photoluminesce résolue en temps (PLRT) avec détection par up-conversion des fréquences.
Échantillonnage électro-optique (EEO) avec sonde externe (cristal de LiTaO₃).
Photoluminescence continue.
Banc d'alignement pour couplage dans des guides d'onde.
Montages en construction: Mélange à quatre ondes et pompe-sonde.

Laser ionique à gaz d'argon (15 Watts)
Laser à impulsions Ti-saphir, configuration femtoseconde, jeux de miroirs pour 720-850 nm et 850-950 nm, autocorrélateur
Cryostats refroidis à l'azote liquide (77K) et à l'hélium (4K)
Réfrigérateur à cycle fermé (gaz d'hélium)
Deux spectromètres à réseau (un pour des mesures entre 350-550nm et l'autre pour de mesures entre 550-950nm)
Photomultiplicateurs pour mesure en comptage de photons (faible niveau de bruit < 10 coups/s), réfrigérateur à effet Peltier, source d'alimentation haute-tension
Compteur de photons à deux entrées (possibilité de déclenchement avec portes)
Amplificateur synchrone
Système de pompage (pompes mécanique et à diffusion)
Modulateur de faisceau (« chopper » mécanique jusqu'à 4kHz)
Micro-positionneurs (translateurs, rotateurs) avec contrôleur 4 axes pour les montages de spectrocopies femtosecondes
Micro-positionneur (ligne à délai) avec contrôleur 2 axes pour le montage d'EEO
Blocs de micro-positionnement (4 axes) pour le banc d'alignement, dédié aux expériences faites sur des guides d'onde à semiconducteur
Composants optiques divers (lentilles, polariseurs, etc. , ...)
Cristaux non-linéaires de LiIO₃
Cristaux électro-optiques de LiTaO₃
Ordinateurs

Mesures des temps de recombinaison des porteurs dans des semiconducteurs (limité à des temps < 2ns).
Mesures des temps de relaxation, des temps de refroidissement des populations de porteurs chauds et des temps caractéristiques de transfert de charges dans des semiconducteurs (résolution < 200 fs). L'excitation optique peut se faire entre 400 nm et 950nm. Dans le cas du montage de PLRT la détection est effectuée par up-conversion des fréquences dans un cristal non-linéaire.
Mesures des temps de réponse de dispositifs opto- et micro-électroniques (résolution < 10 ps et potentiellement < 0.5ps). Ces mesures sont effectuées avec une excitation optique (laser à impulsions) ou électrique (via une ligne à transmision).
Mesures des pertes optiques dans des structures guide d'onde.
Mesures des profils d'émission de diodes lasers ou encore d'harmoniques supérieures provenant de matériaux non-linéaires (montage en construction).