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Spectroscopie femtoseconde

Laboratoire du professeur Denis Morris

Téléphone : 819 821-8000, poste 63077

Montages expérimentaux

  • Photoluminescence résolue en temps (PLRT) avec détection par up-conversion des fréquences
  • Échantillonnage électro-optique (EEO) avec sonde externe (cristal de LiTaO3)
  • Photoluminescence continues
  • Banc d'alignement pour couplage dans des guides d'onde
  • Montages en construction : Mélange à quatre ondes et pompe-sonde

Appareillage

  • Laser ionique à gaz d'argon (15 Watts)
  • Laser à impulsions Ti-saphir, configuration femtoseconde, jeux de miroirs pour 720-850 nm et 850-950 nm, auto-corrélateur
  • Cryostats refroidis à l'azote liquide (77K) et à l'hélium (4K)
  • Réfrigérateur à cycle fermé (gaz d'hélium)
  • Deux spectromètres à réseau (un pour des mesures entre 350-550nm et l'autre pour de mesures entre 550-950nm)
  • Photomultiplicateurs pour mesure en comptage de photons (faible niveau de bruit < 10 coups/s), réfrigérateur à effet Peltier, source d'alimentation haute-tension
  • Compteur de photons à deux entrées (possibilité de déclenchement avec portes)
  • Amplificateur synchrone
  • Système de pompage (pompe mécanique et à diffusion)
  • Modulateur de faisceau (« chopper » mécanique jusqu'à 4kHz)
  • Micro-positionneurs (translateurs, rotateurs) avec contrôleur 4 axes pour les montages de spectroscopies femtosecondes
  • Micro-positionneur (ligne à délai) avec contrôleur 2 axes pour le montage d'EEO
  • Blocs de micro-positionnement (4 axes) pour le banc d'alignement, dédié aux expériences faites sur des guides d'onde à semiconducteur
  • Composants optiques divers (lentilles, polariseurs, etc. , ...)
  • Cristaux non-linéaires de LiIO3
  • Cristaux électro-optiques de LiTaO3
  • Ordinateurs

Types de mesure et services offerts

  • Mesures des temps de recombinaison des porteurs dans des semiconducteurs (limité à des temps < 2ns)
  • Mesures des temps de relaxation, des temps de refroidissement des populations de porteurs chauds et des temps caractéristiques de transfert de charges dans des semiconducteurs (résolution < 200 fs). L'excitation optique peut se faire entre 400 nm et 950nm. Dans le cas du montage de PLRT la détection est effectuée par up-conversion des fréquences dans un cristal non-linéaire
  • Mesures des temps de réponse de dispositifs opto- et micro-électroniques (résolution < 10ps et potentiellement < 0.5ps). Ces mesures sont effectuées avec une excitation optique (laser à impulsions) ou électrique (via une ligne à transmission)
  • Mesures des pertes optiques dans des structures guide d'onde
  • Mesures des profils d'émission de diodes lasers ou encore d'harmoniques supérieures provenant de matériaux non-linéaires (montage en construction)