NORDSON QUADRA 5
Système d'inspection rayon-X.
Quadra™ 5 est le système d'inspection par rayons X de choix pour les applications submicroniques telles que l'inspection des circuits imprimés et des semi-conducteurs, le dépistage des composants contrefaits et le contrôle qualité des produits finis. La source de rayons X QuadraNT™ et le détecteur AspireFP™ sont conçus, fabriqués et intégrés en interne, spécifiquement pour l'électronique et les échantillons de fabrication.
Spécifications
| Paramètre | Valeur | Note |
|---|---|---|
| Résolution | 3 MP | |
| Fréquence de rafraîchissement d'image | 25 fps | |
| Taille de pixel | 50 um | |
| Traitement d'imagerie numérique | 16 bit | |
| Résolution d'affichage | 94 PPI | |
| Zone d'inspection | 20 " L * 17.5 " P (510 mm * 445 mm) | |
| Grossissement | 2 500x | Grossissement total 45 000x |
| Tension d'anode de la source (pénétration des rayons) | 30-160kV |
Exemples d'utilisation
Traces de cuivre sur SI
Traces de cuivre sur Si (rapproché)
Inspection QFN
