Diffusivity – Xenon Flash
La DXF permet la caractérisation de la diffusivité thermique et la conductivité thermique d'un échantillon entre -175°C et 200°C. Dans cette technique, un pulse de chaleur de 17 J provoqué par un laser est envoyé sur un côté d’un échantillon de géométrie donné. À partir de l’analyse de la chaleur transmise sur l’autre face de l’échantillon, il est alors possible d’en déduire la diffusivité thermique. L’instrument de la composante est le DXF200 de TA instruments.
L’accès à l’instrument en libre-service nécessite une formation.