Fluorescence X
La spectrométrie de fluorescence des rayons X (FRX) est une technique analytique chimique basée sur une propriété physique de la matière, soit la fluorescence des rayons X. Sous l’effet d’un bombardement avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous cette même forme. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition chimique de l'échantillon. À partir de l’analyse de ce spectre, il devient possible d’en déduire la composition élémentaire ainsi que les concentrations massiques des éléments.
Le spectromètre Axios Advanced de la compagnie Panalytical est un spectromètre à analyse dispersive en longueur d’onde (WD-XRF). L'analyse spectrale du rayonnement est faite par dispersion angulaire au moyen d’un réseau de diffraction optique composé de cristaux.
En fonction du type d’analyse effectuée, qualitative ou quantitative, et du type de matrice étudiée, le spectromètre est compatible avec des supports analytiques variés permettant d’accommoder différentes méthodes de préparation d’échantillon (perle fondue, poudre pressée et film de mylar).