Fluorescence X
La spectrométrie de fluorescence des rayons X (FRX) est une technique analytique chimique basée sur une propriété physique de la matière, soit la fluorescence des rayons X. Sous l’effet d’un bombardement avec des rayons X, la matière réémet de l'énergie sous cette même forme. Le spectre des rayons X émis par la matière est caractéristique de la composition chimique de l'échantillon. À partir de l’analyse de ce spectre, il devient possible d’en déduire la composition élémentaire ainsi que les concentrations massiques des éléments.
La PRAM dispose de deux types d’instruments d’analyse par fluorescence des rayons X qui diffèrent par la manière dont les rayons X émis par l'échantillon sont analysés:
Le spectromètre Axios Advanced de la compagnie Panalytical est un spectromètre à analyse dispersive en longueur d’onde (WD-XRF) ;
Le spectromètre S2 PUMA Series 2 de Bruker est un spectromètre qui détecte et analyse l'énergie des rayons X (ED-XRF).