Microscope électronique à balayage conventionnel
Le microscope S-3400N de la compagnie Hitachi est un microscope électronique à balayage conventionnel avec une source W.
Ce microscope permet d'obtenir rapidement des images de bonne résolution sur différents types d'échantillons. Il est configuré pour détecter les électrons secondaires et les électrons rétrodiffusés ainsi que les rayons X.
Caractéristiques
- Détecteurs pour les électrons secondaires (SE) et les électrons rétrodiffusés (BSE)
- Tension d'accélération allant de 5 kV à 30 kV
- Mode pression variable jusqu'à 270 Pa
- Grossissement allant jusqu'à 100 000 X
- Détecteur pour la spectroscopie à rayons X à dispersion d'énergie (EDS)
- Porte-échantillon de grande capacité