Microscope à force atomique (AFM), Dimension Icon Scanasyst (Veeco, Bruker)
Fonctionnement
Le Dimension Icon est un microscope à force atomique versatile permettant de caractériser directement la surface d'un échantillon avec des résolutions latérale et verticale pouvant atteindre quelques angströms. L'appareil utilise une pointe très effilée montée sur un micro-levier pour balayer la surface de l'échantillon dans toutes les directions de l'espace et les déplacements en hauteur de la pointe sont détectés à l'aide d'un faisceau laser réfléchi sur le micro-levier. Une image topographique tridimensionnelle de la surface de l'échantillon est ainsi reconstituée.
Cet appareil donne accès à des informations telles que les propriétés topographiques, visco-élastiques, mécaniques, électriques ou magnétiques de l'échantillon. Les images obtenues peuvent être analysées via le logiciel NanoScope Analysis installé sur l'appareil, permettant notamment la mesure de la rugosité de surface ainsi que l'analyse des profondeurs. L'appareil est également doté du mode ScanAsyst afin d'acquérir rapidement des images AFM de haute qualité grâce à une optimisation automatique des paramètres d'imagerie.
Caractéristiques
- Types d’échantillons : conducteurs, semi-conducteurs, isolants, polymères, composites, nanoparticules, ADN, etc.
- Modes ScanAsyst : dans l’air ou en solution
- Modes tapping : dans l’air ou en solution
- Modes contact : Dans l’air, en solution, ou microscopie de force latérale (LFM)
- Modes électriques et magnétiques : C-AFM, SCM, SSRM, TR-TUNA, TUNA, MFM & EFM, Surface Potential Detection, Piezo response, STM
Utilisation
L’appareil étant facile d’utilisation, il est recommandé pour les utilisateurs de suivre une courte formation afin d’accéder à une utilisation en mode libre-service.
Contact : Paul-Ludovic Karsenti
Liens complémentaires
