Microscopie électronique à balayage (MEB)

La microscopie électronique à balayage (MEB) est une technique basée sur le principe des interactions électrons-matière permettant d’obtenir des images en haute résolution de la surface d’un échantillon. Un faisceau d’électrons vient frapper la surface de l’échantillon générant l’émission d’un spectre de particules sous forme de rayonnements: électrons secondaires, électrons rétrodiffusés et rayons X. Le traitement de ces différents rayonnements apporte de l’information sur la matière dont est constitué l’échantillon.

La PRAM regroupe deux microscopes électroniques répondant chacun à des besoins spécifiques :

  1. Microscope électronique à balayage (MEB) à pression variable (VP abbréviation de "variable Pressure") et mode conventionnel (S-3000N HITACHI)
  2. Microscope électronique à balayage(MEB) à effet de champ (FEG abbréviation pour "Field Emission Gun") (S-4700 HITACHI) avec canon à émission de champ à cathode froide.