Microscopie à force atomique (AFM)

Microscope à force atomique (VEECO NanoScope IIIa)
Microscope à force atomique (VEECO NanoScope IIIa)

La microscopie à force atomique est une technique dont le principe repose sur les interactions entre une pointe et la surface d’un échantillon, qui donne lieu à des forces répulsives ou attractives. Par mesure et contrôle de ces forces, la technique permet de mettre en image la topographie de la surface et d’étudier d’autres phénomènes physiques à l’échelle nanométrique.

Le microscope Nanoscope IIIa de Digital Instruments offre différents modes de fonctionnement comme le mode contact, contact intermittent et non-contact. L’accessoire pour la mesure des forces magnétique et électrochimique est également disponible.

Personne-ressource

Charles Bertrand