Diffraction des rayons X (DRX), à poudre et à film mince

Diffractomètre à rayons X (Panalytical X'Pert Pro MPD)
Diffractomètre à rayons X (Panalytical X'Pert Pro MPD)

Le principe de la diffraction des rayons X (DRX) est basé sur la diffraction par la matière d’un faisceau de rayons X. Lorsque cette matière est cristalline et ordonnée, elle donne lieu à des interférences produisant un spectre de diffraction. L’interaction du faisceau de rayons X avec la matière fournit de l’information sur les dimensions et l'orientation du réseau cristallin.

Le diffractomètre X’Pert Pro MPD de la compagnie Panalytical permet l’étude et l’identification des phases cristallines contenues dans un échantillon. Différents accessoires sont disponibles pour faire l’analyse sur des poudres, des corps denses ou des revêtements de faible épaisseur.

Caractéristiques

  • Détecteur Pixel pour rapidité des mesures
  • Détecteur proportionnel avec monochromateur
  • Module film mince pour les revêtements de faible épaisseur
  • Autoéchantillonneur 45 positions
  • Porte-échantillon rotatif pour assurer la représentativité de la surface d'analyse
  • Angles de travail entre 2 et 140° 2θ

Le diffractomètre peut être couplé à une chambre réactionnelle XRK 900 de la compagnie Anton Paar afin de suivre les changements de la structure cristalline d'un échantillon en fonction de la température sous différentes atmosphères (inerte, réductrice ou oxydante).

  • Température de service de 25 à 900°C
  • Thermorégulation du boitier à 150°C pour éviter la condensation du gaz de réaction
  • Angle d'incidence de 0 à 140 2θ
  • Pression de travail de 1 mbar à 10 bar
  • Diamètre de l'échantillon maximum de 14 mm
  • Porte-échantillon rotatif pour assurer la représentativité de la surface d'analyse
  • Support à échantillon en vitrocéramique (MACOR)
  • Interface de contrôle permettant de corriger la position de l'échantillon (dilatation)

Personnes-ressources

Stéphane Gutierrez

Carl St-Louis