Spectromètre des photoélectrons X (XPS)

Le spectromètre des photoélectrons X est un puissant appareil servant à déterminer la composition chimique de la surface de matériaux. Cette technique d’analyse, développée dans les années 1960, est basée sur la théorie de l’effet photoélectrique proposé par Einstein en 1905.

En somme, l’échantillon est bombardé par un faisceau de rayons X d'énergie connue produisant ainsi la force nécessaire pour éjecter l'électron du noyau des atomes présents en surface.  La vitesse à laquelle l’électron est éjecté est en corrélation directe avec la force de liaison de l’atome qui a été bombardé.  L'énergie cinétique de l'électron éjecté correspond à la différence entre l'énergie du faisceau et l'énergie de liaison de l'atome (éq. 1).  De cette façon, il nous est possible de déterminer la force de liaison et de la même façon la composition chimique.

  • éq.1 :  Ek (ev) = E rayon X (ev)  - Eliaison (ev)