Microscopie à Force Atomique (AFM)

Instrument obtenu par un octroi de la Fondation canadienne pour l'innovation - FCI et du Ministère de l'éducation du Québec (MEQ)

  • Instrument polyvalent permettant d’effectuer différents types de caractérisation de la surface de matériaux mous et/ou durs.
  • Utilise un senseur de force microscopique appelé cantilevier. L’AFM mesure les forces créées entre la pointe du cantilever et la surface à analyser à mesure que le senseur est approché et éloigné de la surface de l’échantillon.
  • Permet d’obtenir des images topographiques (i.e., tridimensionnelles) à l’échelle nanométrique et de l’Angström.
  • Permet de tester les propriétés mécaniques (à l’échelle nanométrique), ainsi que d’autres caractéristiques de surfaces, à savoir les forces d’adhésion et d’élasticité.
  • Applications tant en milieux secs qu’aqueux, donc les échantillons biologiques (ex.: bactéries, cellules, protéines et autres biomolécules) peuvent être analysés.
  • Technique peu invasive (i.e., perturbe peu l'échantillon) lors des analyses (dépendant du type d’analyse et du mode de lecture), donc minimise les artefacts lors des analyses.