Instrument obtenu par un octroi de la Fondation canadienne pour l'innovation - FCI et du Ministère de l'éducation du Québec (MEQ)
Instrument polyvalent permettant d’effectuer différents types de caractérisation de la surface de matériaux mous et/ou durs.
Utilise un senseur de force microscopique appelé cantilevier. L’AFM mesure les forces créées entre la pointe du cantilever et la surface à analyser à mesure que le senseur est approché et éloigné de la surface de l’échantillon.
Permet d’obtenir des images topographiques (i.e., tridimensionnelles) à l’échelle nanométrique et de l’Angström.
Permet de tester les propriétés mécaniques (à l’échelle nanométrique), ainsi que d’autres caractéristiques de surfaces, à savoir les forces d’adhésion et d’élasticité.
Applications tant en milieux secs qu’aqueux, donc les échantillons biologiques (ex.: bactéries, cellules, protéines et autres biomolécules) peuvent être analysés.
Technique peu invasive (i.e., perturbe peu l'échantillon) lors des analyses (dépendant du type d’analyse et du mode de lecture), donc minimise les artefacts lors des analyses.