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Institut interdisciplinaire d’innovation technologique - 3IT
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Caractérisation électrique
Mesure électrique C/V
Mesure électrique I/V
Mesure 4 pointes
Mesure par effet Hall
Caractérisation optique
Photoluminescence résolue en temps
Caractérisation cryogénique
Système cryogénique à champ magnétique intense multi-fonctionnel (PPMS, Physical Properties Measurement System)
Cryostat écranté pour champ nul avec He4 ou He3 pour la caractérisation de jonctions Josephson et SQUID
Cryostat à température variable (VTI)
Profilométrie
Profilométrie par contact
Profilométrie optique
Spectrométrie
Éllipsométrie
Spectroscopie des rayons-X (EDX)
Cathodoluminesence (CL)
Microscope optique
Grossissement maximal de 1000 X
Équipé d'une caméra numérique connectée à un PC
Éclairage diascopique et épiscopique
Observation en champ clair ou champ foncé
Filtres polarisants (polariseur, analyseur)
Filtre Nomarski
Microscope à balayage électronique
Possibilité d'observation sous vide ou en pression variable (jusqu'à 40 Pa)
Tension d'accélération : de 100 V à 30 kV, ajustable par pas de 10V
Taille de sonde de 1 nm à 20 kV, 3 nm à 1 kV
Courant de faisceau : 4 pA à 20 nA
Grossissement : de 20 X à 900 kX