Caractérisation électrique

• Mesure électrique C/V
• Mesure électrique I/V
• Mesure 4 pointes
• Mesure par effet Hall

Caractérisation optique

• Photoluminescence résolue en temps

Caractérisation cryogénique

•  Système cryogénique à champ magnétique intense multi-fonctionnel (PPMS, Physical Properties Measurement System)
• Cryostat écranté pour champ nul avec He4 ou He3 pour la caractérisation de jonctions Josephson et SQUID
• Cryostat à température variable (VTI)

Profilométrie

• Profilométrie par contact
• Profilométrie optique

Spectrométrie

• Éllipsométrie
• Spectroscopie des rayons-X (EDX)
• Cathodoluminesence (CL)

Microscope optique

• Grossissement maximal de 1000 X
• Équipé d'une caméra numérique connectée à un PC
• Éclairage diascopique et épiscopique
• Observation en champ clair ou champ foncé
• Filtres polarisants (polariseur, analyseur)
• Filtre Nomarski

Microscope à balayage électronique

• Possibilité d'observation sous vide ou en pression variable (jusqu'à 40 Pa)
• Tension d'accélération : de 100 V à 30 kV, ajustable par pas de 10V
• Taille de sonde de 1 nm à 20 kV, 3 nm à 1 kV
• Courant de faisceau : 4 pA à 20 nA
• Grossissement : de 20 X à 900 kX