MDP - Caractérisation électrique des matériaux sans contact

Description

Caractérisation sans contact et non-destructive des propriétés électriques des matériaux.

Marque et modèle 

Freiberg Instruments GmbH MDPspot

Specifications techniques 
  • Géométrie des échantillons : morceaux 5mm x 5mm, gaufres, briques.
  • Épaisseur : de 100µm à 156mm
  • Matériaux : silicium n et p, de 0.1 Ωcm à 1000 Ωcm
  • Pulses laser : 20 ns - 20 ms
Procédés disponibles 
  • Mesure de la durée de vie des porteurs minoritaires par le biais de la méthode de la photoconductivité détectée par micro-ondes (MDP) ou par la décroissance de la photoconductivité détectée par micro-ondes (µPCD)
  • Mesure de la photoconductivité
  • Détection des défauts/impuretés dans les matériaux
  • Évaluation de l’homogénéité de la passivation
  • Le système peut effectuer des mesures ponctuelles mais il est possible de faire une cartographie manuellement avec une précision limitée

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Documentation et personnes ressources