Diffractomètre-X Haute résolution

Description 

Appareil à rayon-X multi-usage (Diffraction, Dispersion, Réflexion)

Marque et modèle

Rigaku - Smartlab

Spécifications techniques

  • Source-X Cuivre 2.2kW, point focal 0.4mm x 12mm
  • Détecteur 2D grande surface HyPix 3000
  • Échantillons jusqu'à 200mm de diamètre : plateau horizontal, permettant plusieurs formats d'échantillons.
  • Axes :

    • Goniomètre haute résolution (Theta, 2-Theta, step 0.0001°)
    • Berceau Eulerien (Z, chi, phi)
    • Axe dans-le-plan (2-theta-chi + phi)
    • Correctifs de planéité ±5° (Rx, Ry)
    • Mouvement latéral ±50mm (X, Y)

  • Conditionnement de faisceau incident :

    • Monochromateur 2x Ge(220) (32 arcsec)
    • Monochromateur 4x Ge(220) (12 arcsec)
    • Faisceau divergent (Bragg-Brentano)
    • Faisceau parallèle (miroir rayons-X)
    • Fentes de soller
    • Fentes simples
    • Collimateurs

  • Conditionnement de faisceau diffracté :

    • Analyseur 2x Ge(220) pour mesures triple-axe
    • Filtre K-beta
    • Fentes
    • Atténuateurs
    • Procédés disponibles

Procédés disponibles

  • XRD Poudre
  • XRD polycristaux
  • XRD monocristaux
  • XRR réflectivité X
  • HRXRD monocristaux (triple axe)
  • RSM cartographie d'espace réciproque
  • GIXRD
  • 2D-GISAXS / WAXS
  • In-Plane Diffraction
  • Texture / Pole Figure
  • Cartographie X-Y complète (<= 100mm diam.) ou partielle (jusqu'à 150mm diam.)
  • Analyse de données :

    • XRD poudres
    • XRD solides
    • XRR
    • HRXRD / RSM
    • SAXS
    • Texture
    • Crystallography Open Database (COD)
    • Visualisation de données multi-dimensionnelles

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