Pour une meilleur expérience de navigation, JavaScript doit être activé sur votre navigateur.
AFM
Appareil de mesure de conductivité sans contact
Appareil de mesure d'impédance - Solartron
Chambre environnementale
Diffractomètre-X Haute résolution
Ellipsomètre
FTIR
Microscope à épifluorescence
Microscope laser confocal 3D
Microscope optique DMLM
Microscope optique Zeiss Infinity
Montage de mesure d'angle de contact
Montage laser femto - Mai Tai et OPO
Profilomètre Dektak
Projecteur de profil
Résonnance de plasmons de surface - SPR
Station 1 soleil - Elecctrolum
Station de mesures électriques en salles blanches
Station de microcalorimétrie
Station EQE
Station phototransducteur
Station sous pointes DC
Système d'électrolithographie Raith 150-Two
Filmetrics
Appareil de pulvérisation cathodique Emitech
EIS
Microscope Zeiss Leo 1540 XB
HIPLM
MDP - Caractérisation électrique des matériaux sans contact
Microscope holographique
Microscope optique de type métallurgique (Nikon)
Montage d'effet Hall
Montage de spectroscopie iHR320
Microscope Zeiss Orion NanoFab
Photoluminescence de surface - PL Mapper
Profilomètre optique Fogale
QSPB reader
Spectroscope Raman
Station de caractérisation de LED
Station de mesures HP HV
Station d'injection dans des guides d'ondes
Station Flash Tester
Station sous pointes chauffante
Station sous pointes hautes fréquences
