AFM

Description

Microscope à force atomique qui permet l'analyse de la topographie de surface

Marque et modèle

Veeco Dimension 3000

Spécifications techniques
  • Platine de 6 pouces (150 mm)
  • Platine XY avec positionnement manuel
  • Contrôleur Nanoscope IIIa
  • Logiciel : Nanoscope
Procédés disponibles
  • Contact mode
  • Tapping mode
  • Image topographique et de phase
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