Laboratoire de spectroscopies optiques

Laboratoire du professeur Serge Jandl

Téléphone du laboratoire : 819 821-8000, poste 63049

Montages expérimentaux

  • Interférométrie infrarouge dans le domaine (20 000 - 30 cm-1) en fonction de la température : transmittance et réflectance.
  • Diffusion Raman et photoluminescence dans le visible et le proche infrarouge (20 000 - 8000 cm-1) aux basses températures et sous champ magnétique intense.

Appareillage

  • Interféromètre BOMEM (DA3.002) avec module d'interface PC/VAX
  • Sources : quartz-halogène, Globar, arc de carbone, Hg
  • Séparatrices : quartz, CaF2, KBr, mylars
  • Détecteurs : Si, InSb, MCT, bolomètres et chaînes d'amplification
  • Module de réflectance
  • Spectrophotomètre Perkin-Elmer 180 équipé de sept réseaux, d'un montage de réflectance, d'un condenseur de faisceau, de souces et détecteurs
  • Double-monochromateur SPEX 1403 à réseaux holographiques
  • Lasers : Ar2+ (800mW), Kr2+ (400mW), Eximère (XeCl)
  • Détecteurs : photomultiplicateurs ( S1 et GaAs), chaînes d'amplification, barette de diodes GE

Tous ces appareils sont contrôlés par ordinateur via une interface IEEE

  • Aimant supraconducteur
  • Cryostats à température variable : 1.8-300K
  • Cryostats à cycle fermé : 20-300K
  • Four : 300-700K
  • Systèmes à vide
  • Contrôleurs de température
  • Wattmètre
  • Ensemble de composants optiques divers : lentilles, polariseurs, filtres, monochromateur, rotateur
  • Ensemble d'appareillage électronique divers : générateurs de fonction et d'impulsions, sources de courant et de tension, multimètres, oscilloscopes

Pour la caractérisation et la préparation des échantillons :

    • Rayons X
    • Microscopes optiques
    • Scies à fil et à diamant
    • Système de polissage à poudre de diamant

Types de mesure axés sur les matériaux

  • Détermination des constantes optiques en fonction de la fréquence et de la température sous application éventuelle de champs électrique et magnétique
  • Détermination des phonons optiquement actifs
  • Détermination des excitations électroniques associées aux électrons libres et liés
  • Détermination des impuretés
  • Caractérisation des transitions de phase